(Institución) (Institución)
 

Repositorio Digital del IPEN >
INVESTIGACIÓN Y DESARROLLO >
Artículos publicados en revistas especializadas >

Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://dspace.ipen.gob.pe/handle/ipen/244

Título: Análisis de sedimentos por fluorescencia de rayos x en energía dispersiva
Autor: Olivera, Paula
Temas: Fluorescencia de rayos X
Sedimentos
Materiales de referencia normalizados
Fecha de publicación: jul-2003
Lugar de publicación: Lima
Citación: Olivera P. Análisis de sedimentos por fluorescencia de rayos x en energía dispersiva. Informe Científico Tecnológico. Volumen 2 (2002) p. 29-31.
Resumen: Se ha analizado mediante Fluorescencia de Rayos X en Energía Dispersiva con excitación radioisotópica, una muestra desconocida de sedimento junto a un material de referencia, de matriz similar (SL-1/IAEA). Los errores observados fueron menores del 10% en la mayoría de los casos, excepto para el Ti. Se utilizó una fuente anular de Cd-109 para la excitación de los elementos y un detector semiconductor de Si(Li), acoplado a una tarjeta multicanal incorporado en una PC para la detección de los rayos X característicos. Se ha usado el método de sensibilidad elemental para la determinación de concentraciones de los elementos presentes en rango de número atómico de 19 a 42 (k a Mo) mediante sus líneas K y de 50 a 93 (Sn a U), mediante sus líneas L.
Identificador digital (URI): http://dspace.ipen.gob.pe/handle/ipen/244
ISSN: 1684-1662
Aparece en las colecciones: Artículos publicados en revistas especializadas

Descripción de archivos

Nombre de archivo Descripción Tamaño Formato
_29-31_ Sedimentos x FRX OLIVERA _r_.pdf65,74 kBAdobe PDFAbrir/Descargar
Ver estadísticas

Los ítems de DSpace están protegidos por copyright, con todos los derechos reservados, a menos que se indique lo contrario.

 

CC Todos los contenidos de dspace.ipen.gob.pe, salvo que se indique lo contrario, están licenciados bajo Creative Commons License
Biblioteca CEID | NDLTD | IPEN DSpace Software Copyright © 2002-2008 MIT and Hewlett-Packard - Contacto